ホット ランナー システムに対する部分放電の具体的な影響には、以下が含まれます。 断熱材の劣化を促進します。炭化を引き起こして導電経路を形成する。コンポーネントの焼損につながる高温ホットスポットを生成します。-温度制御の精度を損なう電磁干渉を発生させます。最終的には、発熱体の故障、システムのトリップ、さらには安全上の事故につながる可能性があります。
1. 断熱材の老化・劣化の促進
部分放電によって生成される高エネルギーの電子、紫外線、反応性ガス（オゾンや窒素酸化物など）は、-マイカやシリコンなどの絶縁媒体を継続的に侵食し、化学結合が破壊され、分子構造が劣化します。-
症状: 断熱層が脆くなり、剥離し、弾力性が失われます。
結果: 絶縁耐力が低下し、その後の大規模な放電イベントが発生しやすい状態が生じます。{0}}
重要なメカニズム: 放電プロセス中に生成されたオゾンは水分と結合して腐食性の硝酸ベースの液体を形成し、これが絶縁体の表面をさらに侵食することで悪循環を生み出します。{0}
2. 炭化したチャネルが形成され、永久短絡が引き起こされる
継続的な部分放電により、断熱材内に微細な炭化スポットが生成されます。これらのスポットは徐々に拡大して相互接続し、「電気ツリーのような」導電経路を形成します。{0}}
症状：絶縁抵抗値が変動したり、徐々に低下し、乾燥しても回復できなくなります。
結果: 最終的に、安定した漏れ経路が確立され、発熱体と金型の金属ケーシングの間で短絡が発生します。
典型的なシナリオ: 集中した電界により、加熱要素と金型の金属ハウジングの間の空隙内で部分放電が頻繁に発生します。その後の段階的な炭化により、永久的な絶縁不良が発生します。
3. 局所的な過熱によりコンポーネントの焼損が引き起こされる
1 回の放電イベントによって放出されるエネルギーは微小ですが、高周波の繰り返し放電により微視的な領域内に熱が蓄積され、局所的な高温（摂氏数百度に達する可能性があります）が発生する可能性があります。{0}}
症状: 発熱体に局所的な黒化や剥離が見られ、内部の芯線が溶けて融着する場合もあります。
結果: これにより、影響を受ける加熱ゾーンが損傷するだけでなく、短絡電流のサージにより温度制御モジュールも損傷する可能性があります。-
リスクの増大: 高温により周囲のプラスチック材料の分解も促進され、炭素粉塵が発生し、断熱性能がさらに低下します。
4. 電磁干渉: 制御システムの安定性を損なう
部分放電のプロセスには高周波電磁パルス（最大数百 MHz の周波数に達する）が伴い、ホット ランナー システム内の温度センサーや制御信号に干渉する可能性があります。{0}
症状: 温度コントローラーの温度測定値の異常、PID 制御の失敗、誤った警報、または計画外のシャットダウン。
結果: 射出成形プロセスの安定性が損なわれ、ショート ショットやバリなどの製品欠陥が発生します。
潜行性の性質: この種の干渉は「温度制御の故障」と誤診されることがよくありますが、実際には根本的な原因は電気絶縁の問題にあります。
5. 機器の寿命の短縮とメンテナンスコストの増加
部分放電は「慢性浸食」のプロセスとして機能します。その累積的な影響により、発熱体、ケーブル、コネクタの耐用年数が大幅に短くなる可能性があります。
症状: 当初 5 ～ 8 年間使用できるように設計されたコンポーネントは、わずか 2 ～ 3 年の稼働後に頻繁に故障し始める可能性があります。
結果: 計画外のシャットダウンの頻度が増加します。単一の発熱体の交換費用はわずか数百元ですが、-金型の交換やシステムのデバッグに起因する関連損失-は数万元に達する可能性があります。
業界のコンセンサス: 10 pC を超える部分放電レベルが検出された場合、それは直ちに対応が必要な有害な放電を示していると考えられます。
