ホットランナーセンサーが経年劣化すると、温度測定精度の低下や温度制御が不正確になり、製品の品質不良や装置の異常動作など、さまざまな問題が発生することがあります。具体的な影響は、重大度に基づいて 3 つのタイプに分類できます。
1. 直接温度測定と異常温度制御
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問題の種類 |
特定の症状 |
衝撃のメカニズム |
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連続的に増幅される温度測定偏差 |
表示温度と実際の樹脂温度との偏差は、<5℃ to over 10℃, and cannot be repaired through calibration. |
プローブワイヤーの経年劣化により感度が低下し、実際の温度を正確に感知できなくなります。 |
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応答速度の大幅な遅れ |
高速射出成形中の一時的な温度変化を追跡できません。-温度制御の調整は常に遅く、せん断発熱の動的変化に対応できません。 |
経年劣化によるプローブの熱伝導率の低下、信号伝達遅延 |
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不規則な温度変動 |
もともと滑らかな温度曲線は小さなジャンプを頻繁に示し、その変動は±1度から±3〜5度まで増加し、不安定になります。 |
絶縁層の経年劣化と損傷：絶縁層が損傷し、信号が干渉され、接触の安定性が低下します。 |
2. 製品バッチの品質欠陥
これらは経年劣化による最も直接的な生産上の影響であり、摩擦熱エラーや取り付けの問題と混同されやすいです。
充填欠陥の発生率が高い: 逸脱により温度制御の誤った判断が生じ、実際の溶融温度が不十分になります。これにより、ショート ショット、不均一な充填、複数のキャビティの不均衡が頻繁に発生します。これらは、プロセス パラメータを調整しても一貫して改善することはできません。-
寸法および外観の欠陥: 長期にわたる温度変動により、溶融収縮率が不安定になり、その結果、許容範囲外の重要な寸法や、収縮マーク、反り、フロー マーク、色の違いなどの外観の問題が発生します。--
性能障害: 実際の温度が低いと過剰な内部応力が発生し、製品の落下試験や疲労試験に不合格になります。局所的な過熱は材料の劣化や強度の低下につながる可能性があります。
性能障害: 実際の温度が低いと過剰な内部応力が発生し、製品の落下試験や疲労試験に不合格になります。局所的な過熱は材料の劣化や強度の低下につながる可能性があります。
3. 設備と生産のリスク
温度制御システムでの頻繁な誤警報: 異常なセンサー信号により、温度制御ボックスが頻繁に温度超過または温度未満のアラームをトリガーする可能性があり、-温度超過または温度未満のアラームが頻繁に発生し、生産効率に影響を及ぼします。
ホット ランナーの過熱による損傷: 経年劣化によりセンサーが低温を示すと、温度制御システムが加熱し続け、ホット ランナー本体が過熱し、シールやヒーターの劣化が加速し、ひどい場合にはホット ランナーが焼損することがあります。
蓄積された隠れた品質リスク: 老化は段階的なプロセスであり、偏差は徐々に増幅します。初期欠陥は割合が低く、見落とされやすいかもしれませんが、最終的にはバッチの廃棄や重大な生産損失につながる可能性があります。
