ホット ランナー LVDT センサーの設置、試運転、およびトラブルシューティングに関するこれまでの焦点に基づいて、ホット ランナー シナリオにおける LVDT の一般的な障害は次のように分類できます。
Mechanical Faults:* Sticking or loose connections, often caused by thermal expansion misalignment in the hot runner and long-term vibration, can lead to fluctuating displacement data and failure to follow the needle valve's movement.
信号障害: 信号線のシールドが無効であったり、接続が緩んでいたりすると、強力な電磁干渉と相まって、出力値のドリフトや不規則な変動が発生し、安定した変位信号の取得が不可能になる可能性があります。
環境障害: 高温領域に長時間さらされると、内部コイルの劣化が発生し、出力感度の低下とゼロ点シフトが発生し、ミクロン レベルの検出精度が損なわれる可能性があります。{{1}
校正エラー: 高温条件下でゼロ点を再校正しないと、熱膨張による基準シフトが発生し、全ストローク変位データの偏差が発生し、ニードル バルブの制御精度に直接影響を与える可能性があります。-ハードウェア障害: コイルの短絡/開回路、または内部回路のはんだ除去により、信号出力が完全に失われ、ホット ランナー ニードル バルブ制御が直接故障し、システム アラームとトリップが発生する可能性があります。
