ホット ランナー アプリケーション向けの PTFE 絶縁ワイヤの互換性評価と温度耐性規格に関する以前の説明に基づいて、次の多層試験方法を使用して高温耐性を検証できます。-
標準定温老化試験: ワイヤサンプルを 260 度の高温オーブンに入れ、720 時間連続で焼きます。-試験の前後に絶縁層の絶縁抵抗と引張強さを試験します。変化率が 20% 未満であれば合格とみなされ、長期的な温度安定性が検証されます。-
瞬間高温衝撃テスト: ワイヤを 320 度の高温環境に 10 分間置きます。-取り外した後、絶縁層に軟化、溶融、亀裂がないことを確認し、ホット ランナーの瞬間的な超高温に耐えられるかどうかを確認します。
高温および低温サイクル テスト: -65 度から 260 度の範囲内で高温と低温を交互に繰り返す 50 サイクルを完了します。絶縁層の硬化、亀裂、剥離は予想されず、ホット ランナーの広い温度範囲での動作に適していることがわかります。-実際の動作条件シミュレーション テスト: PTFE 導体をホット ランナー システムに接続し、100 段階の温度上昇および下降サイクルを完了しました。サイクル全体を通じて誘電率の大きな変動は観察されず、実際の動作条件下での温度耐性の信頼性が確認されました。
上記のテストに合格した PTFE 導体は、ホット ランナー システムの長期高温動作要件に完全に適しており、絶縁劣化による分布容量の異常な増加や温度制御の遅れなどの問題を回避します。{0}{1}
