ホット ランナー シナリオで低誘電率の PTFE 導体を選択し、温度制御によるローパス フィルタ効果を軽減することに関する以前の説明に基づいて、次の主流の方法を使用して誘電率をテストできます。{{0}{1}
I. 平行平板コンデンサ法（基本的かつ便利なテスト）
操作手順: PTFE 導体絶縁体の一定の長さのシートを切り取り、2 枚の平行な金属板の間に挟んでコンデンサ構造を形成します。{0}
コアの計算: LCR メーターを使用して静電容量値を測定し、式 ε=Cd/(ε₀A) に代入して誘電率を計算します。
該当するシナリオ: 1kHz-1MHz の低周波テスト。日常的な室温での迅速なスクリーニングに適しています。
II.共鳴空洞法 (高精度テスト)
操作手順: PTFE 絶縁サンプルを配置します... 共振空洞に入り、共振周波数シフトと Q 値の変化を観察します。
パフォーマンスの利点: テスト精度は 5 GHz を超える周波数帯域で ±0.5% に達し、高周波温度制御信号のシナリオに適しています。-
重要な注意事項: TE₀₁δ モードが推奨され、シート-のような PTFE 絶縁サンプルに適しています。
Ⅲ．分布静電容量の逆算法- (工学フィールド試験)
操作手順: LCR メーターを使用して PTFE 導体全体の単位長さあたりの分布容量を直接測定し、導体の構造パラメータに基づいて誘電率を逆決定します。{0}}
実用的価値: 導体を分解する必要はありません。ホット ランナー システムの現場で直接迅速な検証を実行して、100pF/m 以下の認定基準を満たしているかどうかを判断できます。{0}
テスト後、誘電率が 2.2 以下であることが確認された場合、ホット ランナー シナリオに適した低誘電率認定製品であると判断できます。
