温度変化によって生じるさらなるキャリブレーション問題を防ぐために、デバイスの電源をオンにして、少なくとも 30 分間は温めてください。これにより、内部アナログ回路が熱的に完全に安定します。
少なくとも ±0.01% の精度クラスを持つ基準プロセス キャリブレータを作成します。精度比較のためのトレーサビリティのベースラインとして、その精度クラスは、校正中の信号発生器よりも少なくとも 2 クラス高い必要があります。
すべてのテスト ケーブルがしっかりと固定されていることを確認してください。ガジェットが常に接地されていることを確認してください。電磁干渉は、23±5 度の一定温度と 80% 以下の湿度レベルを維持することによって排除する必要があります。
ステップ 1: 基本的な自己テストとゼロ点キャリブレーション: デバイスが正常に動作し、ハードウェアに問題がないことを確認するには、信号発生器システム設定メニューに移動し、[自己テスト] 機能を選択します。-
信号発生器の出力ポートを空のままにし、すべての外部負荷を切断します。システム キャリブレーション メニューから「ゼロ点キャリブレーション」を選択します。-
デバイスがゼロ点偏差補正を自動的にゼロにし、現在の無負荷状態で真のゼロ点出力値を取得するまで待ちます。-ゼロでの出力偏差が範囲の 0.01% 未満であることを確認します。
ステップ 2: 全範囲精度校正と基本的な自己テスト-およびゼロ点校正-
基準キャリブレータを使用して、信号発生器の出力を範囲の 10%、25%、50%、75%、100% に順に設定した後、実際の出力値をポイントごとに測定します。--
フルレンジの出力偏差が機器の公称精度を確実に下回るようにするには、各レンジの適切なチャネルのゲイン補正係数を調整して、複数のレンジにわたる非線形変動を排除します。
特定の熱信号校正: 温度アナログ信号誤差を修正し、ホット ランナー温度制御チャネルの校正基準を満たすには、熱電対のミリボルト出力と RTD 抵抗出力をポイントごとに校正します。--。
周波数校正には、信号発生器の出力周波数を 10MHz に設定し、高精度周波数カウンタを使用して実際の出力周波数を測定し、偏差がゼロになるまで周波数補正係数を調整し、周波数範囲全体にわたって頻繁に使用される周波数帯域を重点的に校正することが含まれます。
波形歪みキャリブレーション: 1 kHz の正弦波を生成し、THD モードでオシロスコープを使用して波形歪みを評価し、波形最適化パラメータを変更して、THD が装置の技術的制限を超えていないことを確認します。
ステップ 3: アーカイブとキャリブレーション後の検証-
キャリブレーション後、システムを 1 時間継続して実行し、10 分ごとに重要な検証ポイントから出力データを収集して、連続的なオフセットがないこと、およびドリフトが範囲の 0.03% 未満であることを確認します。
信号のジャンプや通信の中断がなく、温度制御システムの表示値と信号発生器の出力値の差が ±1 度以下であることを確認するには、ホット ランナー温度制御システムに接続し、フル チャネル リンク テストを実行します。-。
すべての検証項目が要件を満たせば、デバイスは正式に使用できるように準備され、調整パラメータがデバイスの不揮発性メモリに保存され、アーカイブ用の調整記録が作成されます。-
ホットランナー信号発生器の校正精度が生産ライン基準を確実に満たすようにするため、このシンプルで簡単な校正プロセスは、追加の高度な機器を必要とせずに、通常の産業用制御システムのメンテナンス専門家によって独立して実行できます。
